功能材料電學綜合測試系統
擴展優勢
本套系統可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學測試，以及高、低溫環境下的電學測試。與電學檢測儀器在通訊協議、數據庫處理和軟件兼容性上做了大量的接口，更易于擴展，更加節省改造時間與硬件成本。
性能優勢
保護：增加TVS保護過壓、過流、過溫等技術，更加可靠。軟件：在測試功能、數據處理、操作等更加人性化方面做了大量的改進；測量：與其它儀器做了大量的測試對標，與計量院通力合作；進行檢測計量，確保數據的有效與真實。
研發優勢
研發團隊擁有多領域、多學科的博士、碩士技術人員，自成立以來獲多方科研機構、大學試驗室支待，聘請多個知名院校的教授，組建“華測儀器顧問團”。
定制化服務
電學試驗室擁有泰克、是德科技等國外大批檢測設備；生產制造方面，公司有4軸、5軸CNC加工地、超精磨床等一大批生產、加工設備，在工裝、夾具定制化方面更加方便。
檢測項目
1.鐵電參數測試功能
動態電滯回線測試頻率
靜態電滯回錢測試
脈沖測試
疲勞測試
保持力
印跡
漏電流測試
變溫測試功能
2.絕緣電阻測試功能
高準確度的電壓輸出與電流測量，確保測試的品質，適用于功能材料在高溫環境材料的數據的檢測。例如：陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。
3.壓電參數測試功能
可進行壓電陶瓷的唯靜態d33等參數測試，也可通過高壓放均由位移傳感器（如勘怪 干涉儀）動態法測量壓電系數測量。
4.高溫四探針測試功能
符合功能材料導體、半導體材料與其他新材料在高溫環境下測試多樣化的需求。雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國標并參考美標A.S.T.M，也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
5.熱釋電測試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。薄膜材料變溫范圍：－196℃~＋600℃；塊體材料變溫范圍：室溫~200℃、室溫 ~600℃、室溫~800°C。
6.介電溫譜測試功能
用于分析寬頻、高低溫環境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，同時還可以分析被測樣晶隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。
7.塞貝克系數／電阻測量系統
適用于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析；可根據用戶需求配置薄膜測量選件，低溫選件溫度范圍-100℃ ~200℃，高阻選件高至10MΩ。
8.電卡效應測試功能
可以用于測試材料，在寬溫度范圍內的電卡性能。
溫度范圍：-50℃~200℃；
熱流時間范圍：1s-1000s；
電壓可達10kV；
波形：用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預定義波形。
9.熱激發極化電流測試儀TSDC
用于研究功能材料性能的一些關鍵因素，諸如分子弛豫、相轉變、玻璃化溫度等等，通過TSDC技術也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。
靈活配置
鐵電分析儀、高壓放大器、剎試夾具系統控制器、測試夾具。位移傳感器、高低溫環境組合可實現功能材料的鐵電性能、壓電性能、熱釋電性能測試、熱激發極化電流測試儀TSDC等功能測試。
應用領域
鐵電材料、電子陶瓷、熱釋電、薄膜、科學研究、材料開發、工業生產以及器件測試電子、電氣、能源等行業。
